Course Overview

デバイスの微細化にともない、電子顕微鏡による微細領域の構造観察および解析が重要になっている。本講義では、電子顕微鏡および関連するテーマについて基礎から最先端の研究内容まで幅広く解説する。本講義は海外の大学より招聘した教員により英語で行われる。

Learning Achievement

海外の大学より講師招聘。
授業概要・講師一覧及び日程表については、サマースクールの Web サイトをご覧ください。https://tia-edu.jp

Competence

「各自の専門分野における高度な知識を習得する」に関連

Course prerequisites

なお、本講義は SUMMER LECTURE in 2020 for Nanoscience/Nanotechnology の一環として実施されるものであり、本講義に参加するためには TWINS の履修申請とは別にサマースクールの申込手続きが必要になりますのでご注意ください。
第 1 回電子顕微鏡の原理、レンズ、検出器等の説明
第 2 回電子顕微鏡に関連する回折物理学の基礎
第 3 回定量的な構造解析のための回折物理の各論
第 4 回電子顕微鏡のイメージング手法、転移と欠陥の見方
第 5 回高度なイメージング手法の解説
第 6 回走査型電子顕微鏡の原理説明
第 7 回電子顕微鏡を使った分光法の原理
第 8 回英語でのプレゼンテーションとレポート課題。自身の研究への電子顕微鏡の利
用がテーマとなる

Grading Philosophy

出席、宿題、プレゼンテーション、最終レポートを海外の大学で教授を務める講師が
評価し、海外の講師の所属大学の基準で成績を付ける。

Course schedule

Course type

Lectures

Online Course Requirement

Instructor

Okada Susumu

Other information

Identical to 01BC306, 01BF291, 01BG089, and 02BQ207.
Lecture is conducted in English.
The class form will be decided from now on. 特になし

Site for Inquiry

Link to the syllabus provided by the university