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Course Detail

Degree
Master
Standard Academic Year
1・2
Course delivery methods
face-to-face
Subject
Physical sciences, Mathematical sciences
Program
School
Degree Programs in Pure and Applied Sciences
Department
Master's Program in Engineering Sciences
Campus
Tsukuba Campus
Classroom
Course Offering Year
2022-2023
Course Offering Month
April - June
Weekday and Period
Thu4
Capacity
Credits
1.0
Language
English
Course Number
0AJJA01

Scanning Electron Microscope University of Tsukuba

Course Overview

観察は研究の第一歩であり、我々は殆どの実験の前に試料を観察する。ナノサイエンスでは、観察対象がサブミクロン以下になり、光学顕微鏡の分解能の限界を超えるため、電子顕微鏡が威力を発揮する。この授業では、走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope; SEM)を対象とし、その発展の歴史、装置、原理を学ぶ。また、電子と物質の相互作用を概観し、二次電子、反射電子の生成、輸送、検出を理解する。さらにSEMの信号に含まれる情報を整理し、観察法を学ぶ。後半では、電子の応答だけでなく、X線による組成分析や発光を使った機能評価を紹介し、材料科学への応用や最近のSEMの発展についてまとめる。

Learning Achievement

Competence

This class corresponds to "foster scholastic ability and high level professionals".

Course prerequisites

Grading Philosophy

It is evaluated by the report after every lecture.

Course schedule

Course type

Lectures

Online Course Requirement

Instructor

Sohda Yasunari,Sekiguchi Takashi

Other information

隔年で日本語と英語で授業。R3年度は英語。
Identical to 01BF260. 01BF260 and equivalence.

Site for Inquiry

Please inquire about the courses at the address below.


Link to the syllabus provided by the university