Course Overview

Among analytical methods for evaluating functional materials, spectroscopic methods using electromagnetic waves and charged particle beams are introduced.In the course, we learn the basic principles, operating principles, and the apparatus for spectroscopic analytical methods.Specifically, (1) absorption spectrophotometer, (2) fluorescence spectrometer, (3) Fourier-transform infrared spectrometer, (4) Raman spectroometer, (5) circular dichroism spectrometer, (6) Rutherford backscattering spectrometry, (7) secondary ion mass spectrometry, (8) particle induced X-ray emission, (9) nuclear reaction analyzer, (10) accelerator mass spectrometry are described in detail.

Learning Achievement

電磁波および荷電粒子線を用いた物質分析法について、その基礎過程および分析機器の動作原理を理解する。

Competence

論理的・数学的な思考力と解析力、専門知識の習得

Course prerequisites

特になし

Grading Philosophy

担当教員2名がそれぞれの授業の最後に出題するレポート(各々50%)によって評価する。

Course schedule

今日,機能材料の評価に頻繁に用いられる物理的手段による分析法のうち、電磁波および荷電粒子線を用いた分光・分析法について、その基礎となる物理と実際の分析機器の動作原理,構造について学ぶ。

光と物質
吸光光度計
蛍光と燐光
顕微分光
赤外吸収分光
ラマン散乱分光
エリプソメトリー
X線分光
光電子分光
粒子線概論
ラザフォード後方散乱分析(RBS)
電子的阻止能
RBS による深さ分析
核的阻止能
二次イオン質量分析(SIMS)
チャネリング
粒子励起X 線分析法(PIXE)
加速器質量分析(AMS)
原子核反応分析法(NRA)

Course type

Lectures

Online Course Requirement

Instructor

Tomita Shigeo,嵐田 雄介

Other information

Site for Inquiry

Link to the syllabus provided by the university